作為一款立式高性能X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，EDX8800M MAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時搭配了高計數(shù)率和高分辨率的FSDD探測器，它提供了出色的線性動態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實現(xiàn)更高精度的過程和質(zhì)量控制。主要應用于在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進行定性和定量分析。

材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、導電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命，因此，鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優(yōu)點是準確，快速，無損，操作簡單，測量速度快。可同時分析多達五層材料厚度，并能對鍍層的材料成分進行快速鑒定

ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學學術(shù)研究，考古等。其優(yōu)異的線性動態(tài)范圍，可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質(zhì)量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物都可達到最佳分析效果。

新款EDX9000B配置了*基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時配備了優(yōu)秀的高性能硬件，來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX9000B都可以輕松實現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。分析速度快，測試結(jié)果精確，儀器性能穩(wěn)定。

新款EDX9000B配置了*基于Windows基本參數(shù)算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時配備了優(yōu)秀的高性能硬件，來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX9000B都可以輕松實現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。分析速度快，測試結(jié)果精確，儀器性能穩(wěn)定。

ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學學術(shù)研究，考古等。其優(yōu)異的線性動態(tài)范圍，可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行超高精度的過程控制和質(zhì)量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物都可達到最佳分析效果。